Seminário DEMa PPGCEM

No seminário "Caracterização Avançada através de TEM e ASTAR de Ligas β-Ti, Mg, e Interfaces de Recobrimentos de MAO/PEO", ministrado por Conrado Ramos Moreira Afonso, docente do DEMa, será abordado o uso da microscopia eletrônica de transmissão (TEM) combinada com o mapeamento cristalográfico (ASTAR) na caracterização avançada de ligas e interfaces de recobrimentos superficiais. Esta combinação de técnicas, que associa a capacidade de alta resolução do TEM com a análise automatizada de difração de elétrons, permite identificar a orientação cristalográfica de grãos nanométricos.

Cartaz de divulgação.